評価

 

各種評価設備

各種評価設備
 
モデルガス評価装置

 ○概要

  触媒サンプルに排気ガスを模擬したガスを流し、

  その浄化性能を簡易的に評価する装置である。

  大気汚染物質(COHCNOx)をどの程度無害化

  しているのか知ることができる。

 ○原理

  COCO2O2HCNOxH2ON2

  排気ガスの濃度と同様になるように混合して

  触媒に供給し、昇温中、所定のA/F(空燃比)

  流量において触媒前後のガス濃度を計測している 。

 
SEM(EDS/WDS)

 ○概要

  触媒(粉体)、金属材料等の表面形状を拡大観察し、

  定性・定量分析、マッピングを行なうことができる。

  走査電子顕微鏡とも呼ばれている。

 ○原理

  微細に絞った一次電子ビームで試料表面を走査し、

  走査位置に対応した放出二次電子強度を陰極線管上に

  映し出している。

 
高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP装置)

 ○概要

  高周波誘導結合プラズマ(ICP)を光源とする発光分析であり、

  触媒材料や微量元素を定性・定量分析することができる。

 ○原理

  試料溶液を噴霧器で霧状にし、高温のArプラズマに導入し

  発光させる。この光を回折格子で分光し、各元素に固有の

  光の強度を測定する。光の強度と含有率の検量線から、

  未知試料中の成分元素の含有率を高感度に定量する。

 
粒度分布測定装置

 ○概要

  どれくらいの大きさの粒子がどのくらいの割合で

  含まれているかを測定することができる装置である。

 ○原理

  レーザ回折・散乱法によるもので、分散媒中に

  懸濁したサンプル粒子にレーザ光をあてたときに

  起こる光の散乱現象を利用している。

  散乱光の強度分布を複数の工学検出器で測定し、

  収集した散乱光情報を粒度分布に変換し出力している。

 
蛍光X線分析装置(X-RF)

 ○概要

  排ガス触媒成分の定性・定量分析や過酷な環境に

  曝されたことによる有害成分の付着量を評価する

  ことができる。

 ○原理

  物質にX線を照射すると、元素から固有の波長の

  特性X線(蛍光X線)が発生する。

  この蛍光X線の波長から元素の定性分析が可能である。

  また、蛍光X線の強度は元素の含有量に比例しており、

  その強度から定量分析が可能である。

 
比表面積測定装置(BET)

 ○概要

  触媒粉末が単位質量あたりどのくらいの表面積で

  あるか測定することができる。

  この値は粉体粒子と排ガスとの接触頻度の目安となる。

 ○原理

  粉体粒子の表面に吸着占有面積のわかった窒素ガスを

  吸着させ、その量から試料の比表面積(m2/g)

  求めている。

 

シャージ/ベンチ

シャージ/ベンチ
 

○概要

 二輪車の排ガスを測定するシステムです。今後、更に厳しくなる排ガス規制に対応

○構成

 ・排ガス測定装置(MEXA7200

 ・排ガス定容量試料採取装置(CVS7200

 ・コントロールユニット(VETS9000)

 ・ドライバーズエイド(CRSD-7000

 ・シャーシダイナモメーター(37kw

 ・自動計測制御システム(FAMS-8000

 ・エンジン冷却ファン(~150km/h

 

 

シャーシダイナモ

単品評価設備

 

SAKURAの要素技術

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製品情報

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